电阻器的失效机理是多方面的，材料工艺缺陷、工作条件或环境条件下所发生的各种理化过程都可能引起电阻失效，从而影响整机产品的使用可靠性。失效电阻调阻槽内存在电阻膜残余及树脂层存在空洞及酥松等缺陷，在存在水气的环境条件下，调阻槽内部漏电，最终导致电阻阻值降低。而调阻槽内存在电阻膜残余属于电阻本身的质量缺陷。

电阻失效分析——电阻膜偏位、漏电

薄膜电阻由于生产工艺等异常，经常会出现电阻膜偏位等现象，使用一段时间出现阻值变大甚至开路。

该类异常使用X射线检查经常可见电阻膜与面电极衔接位置存在明显缝隙。

检查内部结构，正面可见电阻膜两端与面电极的衔接区域左右不均衡，左端的面电极深入电阻膜一段距离，右端的面电极与电阻膜仅在边缘相接。截面可见一侧面电极与电阻膜之间存在明显的间隙，没有交叠段。

电阻失效分析—— 一端电极脱落

电阻两端电极由于制造工艺、使用PCB板弯曲应力、热应力等原因，往往会出现端电极脱落异常现象。

该类异常外观、X射线检查均难以判断，电性能测试表现更高电阻或开路状态，端电极金属从基底上分层浮起，仅靠弹性保持接触。这种情况还需进一步检查陶瓷基体有无应力裂纹等异常，进一步排查失效根因。

电阻失效分析——过热烧蚀

电阻由于本身特性，工作中自然会产生一定热量，但是工艺制程缺陷、外部过电冲击往往会造成过热烧蚀现象。

某薄膜电阻阻值增大到320Ω左右，外观可见出现烧灼并且露出下面的钝化层和部分调阻槽。去除封装胶后可见调阻槽向下的延长线周围有很明显的烧灼痕。进一步研磨该烧蚀位置可见电阻膜中金属颗粒已经熔化成较大颗粒，且出现电阻膜缺损不连续的一个点，该缺损在电阻膜上形成一条连续的线状断开。综合判断为大电流超功率烧毁。 

某绕线电阻阻值呈几个数量级增大，但是阻值不稳定。通过对失效的电阻器解剖和测试相配合分析，定位到电阻器左端阻值异常，并发现左端内部的白色封装料和电阻丝有较大面积的过热烧灼变色的现象。微观检查可见绕线电阻丝上有烧毁点，电阻丝烧断，但是碳化的烧毁点具有一定的导电能力，表现为不稳定的高阻。

综合分析该失效电阻器左端具有较大面积的过热烧灼区，并非集中于某烧毁点，因此判定属于过功率烧毁，并非电阻丝缺陷。

中析研究所材料实验室提供：

材料力学性能测试, 材料化学成分分析, 材料微观结构分析, 材料热性能测试, 材料电性能测试, 材料光学性能测试, 材料环境适应性测试, 材料表面处理性能评估, 材料腐蚀与磨损测试, 材料老化性能测试, 材料粘接性能测试, 材料导热性能测试, 材料声学性能测试, 材料磁性能测试

中析研究所生物实验室提供：

基因组测序项目, 蛋白质结构预测项目, 细胞信号传导研究项目, 神经生物学研究项目, 免疫学研究项目, 微生物基因组学项目, 植物遗传改良项目, 动物疾病模型建立项目, 药物筛选与开发项目, 环境微生物研究项目, 生物材料研发项目, 基因治疗研究项目, 代谢组学研究项目, 生物信息学分析项目。

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腐蚀实验，非标试验，性能测试，强度检测，老化寿命，抗风实验，抗震实验，电磁干扰，噪声检测，光污染测试，无损检测，模拟环境试验等等。

by NianGao