颜色、光泽、透明度: 岩石的外观特征，可通过肉眼观察或借助放大镜、显微镜进行描述。

解理、断口、硬度: 反映岩石的力学性质，可通过简单的工具或硬度计进行测试。

密度、孔隙度、渗透率: 反映岩石的结构特征和储集性能，可通过比重法、排水法、气体渗透法等进行测定。

波速、弹性模量、泊松比: 反映岩石的动力学性质，可通过超声波测试仪、岩石力学试验机等进行测量。

磁性、放射性: 反映岩石的特殊性质，可通过磁力仪、辐射检测仪等进行测量。

常量元素分析: 测定岩石中主要元素（如 Si、Al、Fe、Ca、Mg、Na、K 等）的含量，常用 X 射线荧光光谱法（XRF）、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）等进行分析。

微量元素分析: 测定岩石中微量元素（如 Cr、Ni、Cu、Zn、Pb 等）的含量，常用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）、原子吸收光谱法（AAS）等进行分析。

同位素分析: 测定岩石中特定元素的同位素组成，常用同位素质谱仪进行分析，可用于确定岩石的年龄、物质来源等信息。

有机质分析: 测定岩石中有机质的含量和类型，常用有机碳分析仪、气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）等进行分析。

偏光显微镜鉴定: 利用偏光显微镜观察岩石薄片的光学性质，鉴定岩石中矿物的种类、含量和相互关系。

X 射线衍射分析（XRD）: 利用 X 射线衍射原理，分析岩石中矿物的晶体结构，鉴定矿物种类。

扫描电子显微镜-能谱仪分析（SEM-EDS）: 利用电子束扫描样品表面，激发特征 X 射线，分析岩石中矿物的化学成分和形貌特征。

野外地质调查: 通过观察、测量、记录等手段，研究岩石的产状、形态、接触关系等宏观特征。

岩心观察描述: 对钻探获取的岩心进行观察和描述，记录岩性、颜色、结构、构造、化石等信息。

岩石薄片分析: 制作岩石薄片，利用偏光显微镜观察岩石的矿物组成、结构构造等微观特征。

基础地质研究: 通过岩石检测，可以了解岩石的成因、演化历史、构造环境等信息，为地球科学研究提供基础数据。

矿产资源勘查: 通过岩石检测，可以寻找和评价矿产资源，确定矿床的类型、规模、品位等关键参数。

工程地质勘察: 通过岩石检测，可以评估岩土体的工程性质，为工程设计和施工提供依据。

环境地质调查: 通过岩石检测，可以分析环境污染的来源、途径和程度，为环境保护提供科学依据。

考古学研究: 通过岩石检测，可以分析古代石器、建筑材料等文物的年代、产地等信息。

声波测井: 利用声波在岩石中的传播速度来推断岩石的性质。

电阻率测井: 利用岩石的电阻率差异来寻找地下水和矿产资源。

放射性测井: 利用岩石的放射性差异来寻找放射性矿产和研究地层层序。

地质罗盘: 用于测量岩石的产状要素。

放大镜: 用于观察岩石的细微特征。

岩石切割机/磨片机/抛光机: 用于制作岩石薄片。

偏光显微镜: 用于观察岩石薄片的光学性质和矿物组成。

X 射线荧光光谱仪 (XRF): 用于分析岩石的化学成分。

电感耦合等离子体原子发射光谱仪 (ICP-AES) / 电感耦合等离子体质谱仪 (ICP-MS): 用于分析岩石的微量元素含量。

同位素质谱仪: 用于分析岩石的同位素组成。

X 射线衍射仪 (XRD): 用于分析岩石的矿物组成。

扫描电子显微镜-能谱仪 (SEM-EDS): 用于分析岩石中矿物的化学成分和形貌特征。

超声波测试仪: 用于测量岩石的波速和弹性模量。

岩石力学试验机: 用于测定岩石的力学性质。